Über eine Entwicklung des INM – Leibniz-Institut für Neue Materialien Saarbrücken haben wir kürzlich schon einmal berichtet. Damals hatten die Entwickler um William de Oliveira einen neuartigen Plagiatsschutz vorgestellt, der besonders gut für den Automotive-Bereich geeignet ist, weil er in Glas eingebettet werden kann und damit sehr temperaturstabil ist. Hier der Link zum damaligen Artikel.
Nun machen die Forscher mit einer neuen Entwicklung auf sich aufmerksam, die in die gleiche Richtung zielt und auf der letzten Hannover-Messe vorgestellt wurde. Es handelt sich um Nano-Pigmente, die ebenfalls bei sehr hohen Temperaturen bis 600 Grad Celsius noch funktionsfähig bleiben und damit genau so gut im Automotive-Bereich verwendet werden können. Auch diese Partikel dienen dazu, Originale von Plagiaten zu unterscheiden. Das Besondere: Bei Anregung durch UV- oder Röntgenstrahlung beginnen die Nanopigmente aus Yttrium- oder Gadolinium-Oxid in einem Orange-Rot zu leuchten. Sie können zum Beispiel in eine Siebdruck-Farbe eingebracht werden, mit denen die zu schützenden Produkte transparent oder deckend beschriftet werden.
Bei der Größe der Partikel können die Forscher Größen zwischen sieben und 600 Nanometer erreichen, was die Eigenschaften an verschiedene Anforderungen und Prozesse anpasst.
Es hat gute Gründe, dass sich viele Forschungsinstitute, Hersteller von Originalteilen und die Automobilhersteller selbst mit der Frage beschäftigen, wie der Kunde echte Produkte von gefälschten unterschieden kann. Es geht hier nämlich um Sicherheit: Ein gefälschtes Produkt kann Leben gefährden.
Die Hersteller von Original-Zubehör haben sich daher vor Jahren schon zur Initiative „MAPP“ zusammengeschlossen. Das steht für „Manufacturers against Product Piracy“. Die Original-Teile oder deren Verpackungen werden mit einem serialisierten Datamatrix-Code bedruckt, den der Kunde mit seinem Smartphone lesen kann. Die von den Herstellern autorisierten Komponenten sind in der Datenbank enthalten. Der Kunde kann sich so von der Echtheit überzeugen.
Bildquelle und weitere Informationen: INM Leibniz-Institut
